NIR光學系統問世　遠離食物過敏原風險

編譯／高晟鈞

食物過敏會帶來嚴重的健康風險，甚至有致死的可能性，每年更導致許多人住院。食品在生產的過程中很容易發生交叉污染，而即使是微量的過敏原，也會引發強烈的過敏反應，因此擁有可靠的過敏原檢測方法變得十分重要。

來自伊利諾伊大學進行的一項新研究，展示了一種利用近紅外線光譜（NIR）檢測過敏原的技術，該方法快速、簡單、廉價且準確度高。

食品中摻雜致敏成份是相當危險的。研究人員所開發的NIR光系統，可以檢測出藜麥粉中是否參雜著常見的三種過敏原──小麥、花生與芝麻。藜麥粉是一種無麩質的穀物，通常用作小麥的替代品，而摻雜任何一點致敏成份或汙染物對於有過敏症的人都是致命的，因此，找到這些致敏成分相當重要。

傳統的過敏原檢測通常涉及複雜的DNA分析，需要昂貴的設備和專業人員，並且檢測耗時久。另外，由於涉及使用化學物品，通常容易導致樣品損壞。相對而言，NIR光系統具有許多優勢。它是非破壞性與侵入性，不使用化學品，且能快速得出結果。另外，它還可以同時檢測多種過敏原，而由於開發成本低，它可以用於各種環境，包括餐廳、工廠甚至家庭。

每種材料都有獨特的吸光度，你可以理解為每個材料都有獨特的「指紋」。NIR光系統可以使用近紅外光來識別致敏成份的指紋，並量化他們的濃度。儘管NIR光譜偏向於一種間接的分析方法，因此它的準確率可能不是100%，也不能捕獲食物中存在的汙染物的確切數量，但它能確定是否存在過敏原，而這對消費者便足矣。

資料來源:Phys.org

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